前言
本书简述了电子元器件失效分析的作用，介绍了电子元器件失效分析的一般方法及应用。本书可供研制电子设备的元器件使用人员、新型电子元器件的设计和管理人员学习。也可供失效分析专业人员参考。
本书共分6章。
第1章绪论，阐述电子元器件失效分析工作的发展、失效分析的作用，介绍了本书的结构和特点。
第2章首先介绍失效的概念、失效的分类，提出得到失效模式定量判据的一些方法;在论述失效分析的思路和典型程序之后，介绍并评价了元器件失效分析的常用技术、可能的失效原因和机理的假设及分析。
第3章以制造工艺复杂、分析难度较大的半导体集成电路的失效分析为重点，列举多个实例，阐述常用电子元器件失效模式和机理的分析方法和过程。
第4章从帮助阅读和使用失效分析报告的角度，阐述失效分析报告的内容、格式、处理和应用。
第5章介绍与失效分析关系密切、以预防失效发生为目的的电子元器件破坏性物理分析的方法和实例。
第6章概述电子元器件失效分析的管理工作。全书由夏泓主编，郑鹏洲主审。