您当前的位置:首页>电子信息>基于单片机的Flash存储器坏块自动检测

基于单片机的Flash存储器坏块自动检测

资料类别:电子信息

文档格式:PDF电子版

文件大小:208 KB

资料语言:中文

更新时间:2020-10-01 10:28:26



推荐标签: 单片机 检测 存储器 flash 自动 基于 自动检测 基于

内容简介

基于单片机的Flash存储器坏块自动检测 摘要;在深入了解Flash存储器的基础上,采用单片机自动检测存储器无效块。主要通过读取每一块的第1、第2页内 容,判断该块的好坏,并给由具体的实现过程,以及部分关键的电路原理图和C语言程序代码。该设计最终实现单片 机自动检测Flash坏块的功能,并通过读取ID号检测Flash的柱能,同时该设计能够存储和读取1 GB数据。
 
上一章:基于单片机的GPS车载模块研究 下一章:基于单片机的DUKPT密钥管理系统

相关文章

C8051F35X单片机内部Flash存储器的擦写方法 面向Flash存储的页面置换算法综述 基于51单片机外置存储器字库系统的设计 基于March+C-算法的单片机存储器测试 基于单片机的存储设备转储器 基于单片机和CPLD的存储遥测系统的设计 基于单片机的微型存储式电子测压器设计 基于单片机的高精度海量数据采集与存储系统