射线透照等效系数测试方法分析
蔡闫生袁生平
任华友
（航天材料及工艺研究所，北京100076）
文摘为获得不同透照电压下不同标准材料的射线透照等效系数，以50kV透照电压为例，以钛为标准材料，揭示了同时透照法和图像法两种等效系数的测试方法。通过对同时透照法步骤及存在问题的分析，引入了解决问题的阶梯扩展和厚度校正两种手段。在等效系数图像法的分析过程中，明确了眼光曲线种类和黑度选取的原则，阐述了爆光曲线与图像法的关系，结合数学手段运用，获得了等效系数与透照电压相关，但不随曝光量改变而变化的结论。
关键词钛，标准材料，等效系数，测试方法
中图分类号：TM930.12
D0I;10. 3969/j. issn. 10072330. 2014. 04.018
Analysis of Radio Graphic Equivalent Factor Test Method
CAI Runsheng
YUAN Shengping
RENHuayou
(Aerospace Research Institute of Materials & Procesing Technology,Beijing 100076)
AbstractIn order to get radiographic equivalent factor for different materials under different transillumination voltage, the essay used two testing methods of simultaneous transillumination and exposure curve graphic in the envi-ronment of 50 kV transillumination voltage,using titanium as standard material. Through the analysis of the steps and problems of simultaneous transillumination method, the essay took in two means of ladder extension and thickness ver-ification as the settlement of the problem. Though the analysis of exposure curve graphic method, the essay affirmed the rules on choosing exposure curve and blackness, explained the relationship between the exposure curve and graph-ic method. Combined with mathematical tools,the essay obtain the conclusion that the equivalent factor is associated
with transllumination voltage, but will not change with the exposure quantity. Key wordsTitanium,Standard materials,Equivalent factor,Test method
0引言
射线透照等效系数是随透照电压等参数变化而变化的一类数值。不同透照电压下的等效系数不同。当透照电压相差数十千伏以上，不同透照电压等级下的等效系数相差较大，且不存在比例关系。
射线透照等效系数具有确定非标准材料曝光条件以及实施像质计代用等作用，特别对指导外场作业具有重要的意义。但长久以来，等效系数的理论与应用研究开展的并不深入。其中原因与等效系数测试方法的不完善有较大关系。
射线透照等效系数是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说是获得相同底片黑度）的标准材料的厚度T。与被检材料的厚度T。之比[1]。
收稿日期：201406-03
即Φ=T/T。,其中T。、T。互为等效厚度。
JB4730—94中给出了以钢为标准材料的部分材料等效系数，如表1所示。
表1的意义在于：将系数乘以待检材料的厚度，即得到相当于多少厚度钢的吸收效果(2]，并可按照相应厚度钢的透照参数对待检测材料实施透照。
表1射线能量（透照电压）均在100kV及以上，而广泛应用的钛、铝、镁、铍及其合金材料以及绝大部分的非金属和复合材料，密度均较钢低，吸收系数要比钢小得多[3]。当上述材料、制件的厚度在几十毫米之内，射线检测的透照电压多低于100kV，由此，表1系数无法直接应用，因此建立简单有效的射线透照等效系数测试方法和相对较低透照电压的等效系
作者简介：募阅生，1963年出生，碳士，主要从事射线检测工艺研究。E-mail：ensh_126@126.com
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宇航材料工艺
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2014年第4期