JY/T 0584-2020 代替JY/T 010一1996
扫描电子显微镜分析方法通则
General rules of analytical methods for scanning electron microscope
2020-12-01实施
2020-09-29发布
目 次
前言……………………………………………………………………………………………………………1
1 范围………………………………………………………………………………………………………… 1
2 规范性引用文件…………………………………………………………………………………………… 1
3 术语和定义………………………………………………………………………………………………… 1
4 分析方法原理………………………………………………………………………………………………3
5 环境条件指标……………………………………………………………………………………………… 6
6 仪………………………………………………………………………………………………………… 6
7 样品…………………………………………………………………………………………………………8
8 分析测试…………………………………………………………………………………………………… 9
9 结果报告 ………………………………………………………………………………………………… 10
10 仪器维护………………………………………………………………………………………………… 11
11 安全注意事项…………………………………………………………………………………………… 1
1 参考文献……………………………………………………………………………………………………… 12
前 言
本标准按照GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替JY/T010—1996《分析型扫描电子显微镜方法通则》，与JY/T 010—1996相比，除编辑性修改外主要技术变化如下∶
——修改了标准的适用范围;
——增加了规范性引用文件（见第2章）;
——增加了术语和定义中"加速电压"、"工作距离"、"像散"、"能谱分辨率"、"电子背散射衍射"、"透射电子"、"环境扫描电镜"和"阴极荧光"的描述（见第 3章）;
——修改并增加了"分析方法原理"部分的相关内容（见第 4 章）;
——增加了"电子背散射衍射仪"（见6.2.5.2）和"阴极荧光系统"（见6.2.5.3）;
——增加了"能谱测试样品的制备"（见7.3.2）和"电子背散射衍射样品的制备"（见 7.3.3）;
——增加了"仪器维护"（见第 10章）;
——修改了"安全注意事项"（见第 11章）。
本标准由中华人民共和国教育部提出。
本标准由全国教育装备标准化技术委员会化学分技术委员会（SAC/TC 125/SC5）归口。