JY/T 0587-2020 代替JY/T 009一1996
多晶体X射线衍射方法通则
General rules for X-ray polycrystalline diffractometry
2020-12-01实施
2020-09-29 发布
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替JY/T 009—1996《转靶多晶体X射线衍射方法通则》，与JY/T009—1996 相比，除编辑性修改外主要技术变化如下∶
——修改了标准名称为"多晶体 X射线衍射方法通则";
——扩充了适用范围，包括薄膜、纳米材料与食品等（见第 1章）;
——增加了规范性引用文件（见第2章）;
——修改了"晶体"、"布拉格公式"、"物相"、"相变"、"微应力"、"测角仪"的定义（见3.2、3.15、3.22、3.23、3.24、3.26，1996年版的3.2、3.14、3.21、3.22、3.23、3.26）;
——删除了"X射线衍射"、"低温衍射"、"高温衍射"、"分析线"、"内标法"、"外标法"（见1996年版的3.11、3.12、3.13、3.25、3.31、3.32);
——增加了"英国剑桥晶体学数据中心的CCDC数据库和开放晶体结构数据库COD"谱图的数据库-（见附录A.1）;
——增加了结晶度分析方法的内容（见 4.2.2）;
——修改了仪器的结构图见6.1.1，1996年版的6.1.1）;
——删除了"脉高分析器的调整"的相应内容（见 1996年版的8.1.2.5）;
——修改并完善了"谱图分析"的相应内容（见 8.2.4，1996年版的8.2.4）;
——修改并完善了"求物相含量的数据处理"的相应内容（见8.3.3，1996年版的8.3.3）;
——完善了"数据处理"的内容（见8.6.3，1996 年版的8.6.3）;
——修改了分析结果的表述（见第9章，1996年版的第9章）;
——删除了"附录 B"和"附录G"的内容（见1996年版的附录 B和附录G）;
——更新了"附录 A"、"附录C"、"附录 D"的内容（见附录 A、附录C、附录 D，1996年版的附录 A、附录C、附录D）;
——增加了参考文献的内容（见参考文献）。
本标准由中华人民共和国教育部提出。
本标准由全国教育装备标准化技术委员会化学分技术委员会（SAC/TC 125/SC5）归口。