YS/T 1011-2014
高纯钴化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法
Methods for chemical analysis of high purity cob:— Determination of impurity elements content— Glow discharge mass spectrometry
2015-04-01 实施
2014-10-14 发布
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）归口。
1 范围
本标准规定了高纯钴中杂质元素的测定方法，测定元素见表1。
本标准适用于高纯 钴中杂质元素含量的测定，各 元素 质量分数 测定 范围为 0.1 μg/kg ～ 20 000 μg/kg。
2 方法原理
在氩气气氛下，试样作为阴极进行辉光放电，其表面原子被溅射而脱离试样进入辉光放电等离子体中，在等离子体中离子化后被导入质谱仪，在每—元素同位素质量数处以预设的扫描点数和积分时间对相应谱峰积分，所得面积即为谱峰强度。无标样时，计算机根据仪器软件中的"典型相对灵敏度因子"自动计算出各待测元素的质量分数;有标样时，需通过在与被测样品相同的分析条件、离子源结构以及测试条件下对标准样品进行独立测定获得灵敏度因子，应用该灵敏度因子计算出各元素的质量分数。
通过应用每个杂质元素 X 与基体元素M 的比值即相对灵敏度因子（RSF），可以从质谱图中计算出试验样品的组分含量。相对灵敏度因子（RSF）是通过在与试验样品相同的分析条件、离子源结构以及测试方案下对标准样品进行独立分析得到的。