YD/T 1690.1-2007
电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第1部分∶通用条件和定义
Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 1:General Conditions and Definitions(IEC62209-1:2002-03 Integrated Circuits-Measurement of Electromagnetic Emissions,150kHz to 1GHz Part 1:General Conditions and Definitions:MOD)
2007-09-29 发布
2008-01-01 实施
前 言
本部分是《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）》系列标准之一，该标准包括以下部分∶
1.YD/T1690.1-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1IGHz）第1部分∶通用条件和定义
2.YD/T1690.2-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第2部分;辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法
3.YD/T1690.3-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第3部分;辐射发射测量 外表扫描方法
4.YD/T1690.4-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第4部分∶传导发射测量1Ω/150Ω直接耦合方法
5.YD/T1690.5-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第5部分∶传导发射测量 法拉第笼方法
6.YD/T1690.6-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第6部分;传导发射测量 磁场探头方法
本部分是该标准的第1部分。
本部分修改采用了IEC 61967-1（2003-03）《集成电路-电磁骚扰的测试方法（150kHz~1GHz）第1部分∶通用条件和定义》，本部分标准和IEC 61967-1的主要差异是本部分标准增加了3.2节缩略语的内容。
本部分的附录A、附录B、附录C均为资料性附录。
本部分由中国通信标准化协会提出并归口。