YD/T 1690.2-2007
电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第2部分∶辐射发射测量TEM小室和宽带TEM小室方法
Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 2:Measurement of Radiated Emissions TEM Cell and Wideband TEM Cell Method (IEC61967-2:2005-09 Integrated Circuits-Measurement of Electromagnetic Emissions,150kHz to 1GHz Part 2: Measurement of Radiated Emissions TEM Cell and Wideband TEM Cell Method:MOD)
2008-01-01 实施
2007-09-29 发布
前 言
本部分是《电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）》系列标准之一，该标准包括以下部分;
1.YDT1690.1-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第1部分;通用条件和定义
2.YD/T 1690.2-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第2部分∶辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法
3.YD/T1690.3-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第3部分;辐射发射测量 外表扫描方法
4.YD/T 1690.4-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~1GHz）第4部分∶传导发射测量1Ω/150Ω直接耦合方法
5.YDT 1690.5-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz~IGHz）第5部分∶传导发射测量 法拉第笼方法
6.YD/T1690.6-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz-1GHz）第6部分;传导发射测量 磁场探头方法
本部分是该标准的第2部分。
本部分修改采用了IEC61967-2（2005-09）《集成电路—电磁骚扰的测试方法（150kHz~1GHz）第 2部分∶辐射骚扰测量-TEM小室和宽带TEM小室法》，与原标准相比做了一些结构性的调整。
本部分的附录均为资料性附录。
本部分由中国通信标准化协会提出并归口。