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JC/T 2146-2012 准相位匹配用高掺镁铌酸锂晶体

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

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资料语言:中文

更新时间:2024-01-17 11:05:00



推荐标签: 晶体 jc 2146 相位

内容简介

JC/T 2146-2012 准相位匹配用高掺镁铌酸锂晶体 [CS 81.060. 30 L51 备案号:38989—2013
JC
中华人民共和国建材行业标准
JC/T 2146-2012
准相位匹配用高掺镁酸锂晶体
Heavily MgO-doped lithium niobate crystal for quasi-phase-matching
application
2012-12-28发布
2013-06-01实施
中华人民共和国工业和信息化部 发布
T JC/T2146-2012
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会功能陶瓷分技术委员会(SAC/TC194/SC3)归口。 本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所、上海硅酸盐研究所中试基地。 本标准主要起草人:郑燕青、涂小牛、孔海宽、陈辉、崔素贤、施尔畏。 本标准为首次发布。 JC/T2146—2012
准相位匹配用高掺镁锯酸锂晶体
1范围
本标准规定了准相位匹配用高掺镁酸锂晶体(MgLN)的术语和定义、标记、技术要求、试验方法、 检验规则以及标志、包装、运输和贮存等。
本标准适用于准相位匹配用高掺镁锯酸锂晶体。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
JB/T9495.1—1999光学晶体 JB/T9495.3光学晶体透过率测量方法 JB/T9495.5光学晶体散射颗粒度测量方法 JB/T9495.7光学晶体光学均匀性测量方法 SJ/T11365电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ20444—1994锯酸锂单晶规范 SJ20605-1996声表面波(SAW)器件用钼酸锂单晶规范 SY/T5161岩石中金属元素原子吸收光谱测定方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
单畴化single-domain 晶体极化后内部偶极子取向的一致程度。
3. 2
紫外吸收边UVabsorption edge 晶体吸收系数为15cm或20cm所对应的波长,分别用入1s和220表示。
4标记
准相位匹配用高掺镁锯酸锂晶体按产品名称代号、生长方向、规格尺寸、端面方向、产品编号和标准号的顺序标记。
示例:生长方向为Z向,产品直径为76.2mm,厚度为50mm,产品端面方向为Y向,产品编号为1,符合JC/T2146 的高掺镁锯酸锂晶体标记为:
MgLNZ-76.2X 50-Y-1-JC/T 2146
标记中各要素的含义如下: JC/T2146—2012
MgLN一一高掺镁锯酸锂晶体(MgO含量为5mo1%7mo1%): Z-—生长方向为Z向; 76.2×50—产品直径为76.2mm,厚度为50mm; Y—.产品端面方向为Y向; 1-—产品编号为1 JC/T2146-一产品符合JC/T2146标准要求。
5 技术要求 5.1 尺寸公差
外形尺寸应符合用户要求,且尺寸公差≤1%。 5.2外观质量
产品应透明、呈淡黄色或者无色;外表面应无机械损伤、无肉眼可见的裂纹 5.3轴向偏差
轴向偏差<1° 5.4.小角度晶界
小角度晶界引起的取向偏差≤18 5.5 单畴化
产品经极化后应完全单畴。 5.6成分均匀性
产品的成分均匀性指标见表1。
表1产品的成分均匀性指标
项目
性能指标 <0. 04 <0.3
Li成分均匀性Cui/(mo1%cm") Mg成分均匀性CMg/(mo1%cm)
5.7 光学质量
产品光学质量指标见表2。
表2产品光学质量指标
性能指标 >68 优于3级 <5×10
项目
420nm~2800nm透过率/%
散射颗粒度”
光学均匀性(折射率梯度,cm") ”产品散射颗粒度性能指标参照JB/T9495.1-1999的5.2.4.2。
2 JC/T21462012
5.8有害物质含量
有毒有害物质含量见表3。
表3有毒有害物质含量
有毒有害物质名称
含量指标 <0. 1% <0.1% <0. 1% <0. 1% <0. 1% <0.01%
铅汞六价铬多溴联苯
多溴二苯醚(十二溴二苯醚除外)

6 试验方法
:6.1尺寸公差
采用测量精度不低于0.02mm的游标卡尺进行测定。 6.2外观质量
在100W白炽灯光下,采用用目测法进行检验。 6.3轴向偏差
按照SJ20605-1996的附录A规定的方法进行测定。 6.4小角度境界
按照SJ20444一1994的附录B规定的方法进行测定。 6.5单畴化
按照本标准附录A规定的方法进行测定。 6.6成分均匀性
Li成分均匀性按照本标准附录B规定的方法进行测定;Mg成分均匀性按照SY/T5161规定的方法分别测定晶体顶部和底部的Mg含量,晶体顶部和底部的Mg含量的绝对值与晶体长度的比值即为晶体的Mg成分均匀性,顶部和底部取样位置按本标准附录B规定的方法进行。 6.7光学质量
光透过率按照JB/T9495.3规定的方法进行测定;散射颗粒度按照JB/T9495.5规定的方法进行测定;光学均匀性按照JB/T9495.7规定的方法进行测定。 6.8有害物质含量
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