ICS 19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
代替GB/T23901.3—2009
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分：像质分类 Non-destructive testingImage quality of radiographs-
Part3:Imagequalityclasses
（ISO19232-3:2013,IDT)
2020-01-01实施
2019-06-04发布
国家市场监督管理总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
目 次
前言范围
m
规范性引用文件术语和定义像质等级
2
3
5 像质计的放置
像质值的确定射线照相检测的像质值单壁透照技术（源侧A级像质）单壁透照技术（源侧B级像质）
6
8
O
10 双壁双影透照技术（源侧A级像质） 11 双壁双影透照技术（源侧B级像质） 12 双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧A级像质）
双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）
13 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
前言
GB/T23901《无损检测射线照相检测图像质量》分为5个部分：
第1部分：丝型像质计像质值的测定；一第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定；
第3部分：像质分类；一第4部分：像质值和像质表的实验评价；
第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
一
本部分为GB/T23901的第3部分本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草，本部分代替GB/T23901.3一2009《无损检测射线照相底片像质第3部分：黑色金属像质分
类》，与GB/T23901.3一2009相比，主要变化如下：
删除了范围中对“黑色金属”的限制，“黑色金属像质分类”改为“像质分类”；修改了规范性引用文件（见第2章，2009年版的第2章）；修改了术语和定义（见第3章，2009年版的第3章）；更新了采用Ir192和Se75检测时的像质值确定方法，射线照相检测的像质值（见第7章， 2009年版的表1～表4）；
一删除了表1～表12中的脚注（见2009年版的表1～表12）；
“射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”； “像质指数”改为“像质值”； “胶片”改为“探测器”； “线型像质计”，改为“丝型像质计”。 本部分使用翻译法等同采用ISO19232-3：2013《无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像
质分类》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：
-GB/T19802一2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求（ISO5580：1985，IDT） GB/T19943—2005 无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则（ISO5579： 1998,IDT) GB/T23901.1—2019无损检测 射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定(ISO19232-1:2013,IDT) GB/T23901.2一2019无损检测 射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定（ISO19232-2：2013，IDT）
一
本部分由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本部分起草单位：上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙江省
缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术（北京）有限公司、中广核工程有限公司、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技（上海）股份有限公司
本部分主要起草人：陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、王晓勇、江运喜、朱从斌、徐薇、张政、
II GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
周建平、危荃、孙建罡、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、 马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
GB/T23901.3—2009。
一
IV GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分：像质分类
1范围
GB/T23901的本部分规定了射线照相检测时需达到的像质值.以确保相同的射线照相检测图像
质量评价。
本部分适用于射线照相检测时采用ISO19232-1规定的丝型像质计和采用ISO19232-2规定的阶梯孔型像质计对图像质量进行评价。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
ISO5579无损检测金属材料X或伽玛射线照相检测基本规则（Non-destructivetesting一Ra diographic examination of metallic materials by X- and gamma raysBasic rules)
ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求（Non-destructivetesting一Industrialradi ographic illuminators—Minimum requirements)
ISO17636（所有部分） 焊缝无损检测 射线检测（Non-destructivetestingofwelds Radiographic testing)
ISO19232-1无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（Non-de structive testingImage quality of radiographsPart l:Determination of the image quality value u- sing wire-type image quality indicators)
ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(Non-destructive testingImage quality of radiographs-Part 2:Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators)
3术语和定义
ISO5579界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
像质计imagequalityindicator；IQI 能够测量所获得的像质，由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件注：像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.2
像质值imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值。 注：像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度（IQIsensitivity)表述。像质值见表1~表12。
3.3
像质表 imagequalitytable 与透照厚度相对应的所需达到的像质值汇总表。
1 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
4像质等级
4.1单壁透照
满足ISO5579的检测要求，可达到表1～表4的像质等级 a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 表1～表4给出的像质值是用于像质计放在源测的情况。如果像质计不能放在源测，可放在探测
器侧，在这种情况下不能使用表1～表4。
注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄壁工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章
4.2双壁透照
满足ISO5579的检测要求可达到表5～表12的像质等级 a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄板工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章。 当采用双壁透照射线照相检测技术时，透照厚度为射线穿透的工件公称厚度t的总和表5～表8所示的像质值适用于像质计放在源侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，表9～表12所示的像质值适用于像质计放在探测器侧时双壁单影透照方法的A级和B级像质等
级，也适用于像质计放在探测器侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，如按照ISO17636进行椭圆透照检测。
5像质计的放置
射线照相检测时，像质计应放置于被检工件的源侧表面。当被检工件的源侧表面无法放置像质计
时，像质计可放置在被检工件的探测器侧，但像质计附近需放置铅字“F”以示区别。像质计应放置在工件厚度相对均匀的区域。如有特殊要求时应按所采用标准的规定进行。
6像质值的确定
使用胶片射线照相检测，在确定像质值时，观片条件应符合ISO5580的要求对于丝型像质计，在图像上能识别的最细丝的编号即为像质值。当图像密度（或灰度)均匀部位能
清晰的识别长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝的影像是可识别的。
对于阶梯孔型像质计，在底片上能识别的最小孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时，
则两个孔均应在图像上可识别，
一般情况下，每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其检测质量是否满足要求。在透照相似
的被检工件和区域时，如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值没有差别，则不需要对每张图像质量进行验证，图像质量的验证范围由合同各方商定，
7？射线照相检测的像质值
当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时，如合同各方认可如下规定，则所得像质值可低于表1～
2 ICS 19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
代替GB/T23901.3—2009
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分：像质分类 Non-destructive testingImage quality of radiographs-
Part3:Imagequalityclasses
（ISO19232-3:2013,IDT)
2020-01-01实施
2019-06-04发布
国家市场监督管理总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
目 次
前言范围
m
规范性引用文件术语和定义像质等级
2
3
5 像质计的放置
像质值的确定射线照相检测的像质值单壁透照技术（源侧A级像质）单壁透照技术（源侧B级像质）
6
8
O
10 双壁双影透照技术（源侧A级像质） 11 双壁双影透照技术（源侧B级像质） 12 双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧A级像质）
双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）
13 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
前言
GB/T23901《无损检测射线照相检测图像质量》分为5个部分：
第1部分：丝型像质计像质值的测定；一第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定；
第3部分：像质分类；一第4部分：像质值和像质表的实验评价；
第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定
一
本部分为GB/T23901的第3部分本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草，本部分代替GB/T23901.3一2009《无损检测射线照相底片像质第3部分：黑色金属像质分
类》，与GB/T23901.3一2009相比，主要变化如下：
删除了范围中对“黑色金属”的限制，“黑色金属像质分类”改为“像质分类”；修改了规范性引用文件（见第2章，2009年版的第2章）；修改了术语和定义（见第3章，2009年版的第3章）；更新了采用Ir192和Se75检测时的像质值确定方法，射线照相检测的像质值（见第7章， 2009年版的表1～表4）；
一删除了表1～表12中的脚注（见2009年版的表1～表12）；
“射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”； “像质指数”改为“像质值”； “胶片”改为“探测器”； “线型像质计”，改为“丝型像质计”。 本部分使用翻译法等同采用ISO19232-3：2013《无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像
质分类》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：
-GB/T19802一2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求（ISO5580：1985，IDT） GB/T19943—2005 无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则（ISO5579： 1998,IDT) GB/T23901.1—2019无损检测 射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定(ISO19232-1:2013,IDT) GB/T23901.2一2019无损检测 射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定（ISO19232-2：2013，IDT）
一
本部分由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本部分起草单位：上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙江省
缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术（北京）有限公司、中广核工程有限公司、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技（上海）股份有限公司
本部分主要起草人：陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、王晓勇、江运喜、朱从斌、徐薇、张政、
II GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
周建平、危荃、孙建罡、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、 马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
GB/T23901.3—2009。
一
IV GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分：像质分类
1范围
GB/T23901的本部分规定了射线照相检测时需达到的像质值.以确保相同的射线照相检测图像
质量评价。
本部分适用于射线照相检测时采用ISO19232-1规定的丝型像质计和采用ISO19232-2规定的阶梯孔型像质计对图像质量进行评价。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
ISO5579无损检测金属材料X或伽玛射线照相检测基本规则（Non-destructivetesting一Ra diographic examination of metallic materials by X- and gamma raysBasic rules)
ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求（Non-destructivetesting一Industrialradi ographic illuminators—Minimum requirements)
ISO17636（所有部分） 焊缝无损检测 射线检测（Non-destructivetestingofwelds Radiographic testing)
ISO19232-1无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（Non-de structive testingImage quality of radiographsPart l:Determination of the image quality value u- sing wire-type image quality indicators)
ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
(Non-destructive testingImage quality of radiographs-Part 2:Determination of the image quality value using step/hole-type image quality indicators)
3术语和定义
ISO5579界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
像质计imagequalityindicator；IQI 能够测量所获得的像质，由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件注：像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.2
像质值imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值。 注：像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度（IQIsensitivity)表述。像质值见表1~表12。
3.3
像质表 imagequalitytable 与透照厚度相对应的所需达到的像质值汇总表。
1 GB/T23901.3—2019/ISO19232-3:2013
4像质等级
4.1单壁透照
满足ISO5579的检测要求，可达到表1～表4的像质等级 a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 表1～表4给出的像质值是用于像质计放在源测的情况。如果像质计不能放在源测，可放在探测
器侧，在这种情况下不能使用表1～表4。
注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄壁工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章
4.2双壁透照
满足ISO5579的检测要求可达到表5～表12的像质等级 a）对于A级射线照相检测技术，对应A级图像质量（见ISO5579）； b）对于B级射线照相检测技术，对应B级图像质量（见ISO5579）。 注：对特殊透照（例如：使用Ir192透照薄板工件），可按规定选取不同的像质值，见第7章。 当采用双壁透照射线照相检测技术时，透照厚度为射线穿透的工件公称厚度t的总和表5～表8所示的像质值适用于像质计放在源侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，表9～表12所示的像质值适用于像质计放在探测器侧时双壁单影透照方法的A级和B级像质等
级，也适用于像质计放在探测器侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级，如按照ISO17636进行椭圆透照检测。
5像质计的放置
射线照相检测时，像质计应放置于被检工件的源侧表面。当被检工件的源侧表面无法放置像质计
时，像质计可放置在被检工件的探测器侧，但像质计附近需放置铅字“F”以示区别。像质计应放置在工件厚度相对均匀的区域。如有特殊要求时应按所采用标准的规定进行。
6像质值的确定
使用胶片射线照相检测，在确定像质值时，观片条件应符合ISO5580的要求对于丝型像质计，在图像上能识别的最细丝的编号即为像质值。当图像密度（或灰度)均匀部位能
清晰的识别长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝的影像是可识别的。
对于阶梯孔型像质计，在底片上能识别的最小孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时，
则两个孔均应在图像上可识别，
一般情况下，每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其检测质量是否满足要求。在透照相似
的被检工件和区域时，如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值没有差别，则不需要对每张图像质量进行验证，图像质量的验证范围由合同各方商定，
7？射线照相检测的像质值
当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时，如合同各方认可如下规定，则所得像质值可低于表1～
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