GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度(引线牢固性) GB/T 4937.19-2018 半导体器件机械和气候试验方法第19部分∶芯片剪切强度 GB/T 4937.22-2018 半导体器件机械和气候试验方法第22部分∶键合强度 GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分：键合强度 GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 GB/T 4937.13-2018 半导体器件机械和气候试验方法第13部分∶盐雾 GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 GB/T 4937.17-2018 半导体器件机械和气候试验方法第17部分∶中子辐照