ICS 25. 040. 40 ;33. 100 N. 10
中华人民共和国国家标准
GB/T 18268.25---2010/IEC 61326-2-5:2006
测量、控制和实验室用的电设备
电磁兼容性要求第25部分：特殊要求
接口符合 IEC 61784-1,CP 3/2 的现场装置的试验配置、工作条件
和性能判据
Electrical equipment for measurement , control and laboratory use-
EMC requirements-Part 25 : Particular reguirements-
Test configurations , operational conditions and performance criteria for field devices with interfaces acc0rding to IEC 61784-1 ,CP 3/2
(IEC 61326-2-5:2006,IDT)
2011-05-01 实施
2011-01-14 发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布 GB/T 18268.25—2010/IEC 61326-2-5:2006
前言
GB/T18268测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求》由以下部分组成：
第1部分：通用要求一第 21部分：特殊要求 无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据第22部分：特殊要求 低压配电系统用便携式试验、测量和监控设备的试验配置、工作条件和性能判据第23部分：特殊要求带集成或远程信号调理变送器的试验配置、工作条件和性能判据第24部分：特殊要求符合IEC61557-8的绝缘监控装置和符合IEC61557-9的绝缘故障定位设备的试验配置、工作条件和性能判据第25部分：特殊要求接口符合EC61784-1，CP3/2的现场装置的试验配置、工作条件和性能判据第26部分：特殊要求体外诊断(IVD)医疗设备一第31部分：执行或准备执行有关安全功能（功能安全）的设备的抗扰度要求一般工业应用第32部分：执行或推备执行有关安全功能（功能安全）的设备的抗扰度要求规定电磁环境中
的工业应用
本部分是GB/T18268的第25部分。 本部分等同采用IEC61326-2-5：2006（英文版）。 本部分依据GB/T1.1一2000《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写规则》和
GB/T20000.2--2001《标推化工作指南第2部分：采用国际标准的规则》的有关规定进行下列编辑性修改：
删除了国际标准的前言和引言; “IEC61326的本部分"改为"GB/T18268的本部分”；一原引用文件的引导语按GB/T1.1-2000的规定改成规范性引用文件的引导语。 本部分采用的国际标准中，各章的附加内容均采用了特殊编号，如5.2.101、5.3.102等，以示区别。
鉴于本部分为等同采用国际标准，为与国际标准保持一致，本部分未作更改。
本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国工业过程测量和控制标准化技术委员会(SAC/TC124)归口。 本部分负责起草单位：上海工业自动化仪表研究所。 本部分参加起草单位：上海仪器仪表自控系统检验测试所、上海怡博船务有限公司、嘉兴市科讯电
子有限公司、福建上润精密仪器有限公司。
本部分主要起草人：王英、肖爱珍、李明华、姚志宏、张东升、孙敏松、戈剑、洪济哗。 本部分为首次发布。
1 GB/T 18268.25--2010/IEC 61326-2-5:2006
测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第25部分：特殊要求
接口符合 IEC 61784-1，CP 3/2的现场装置的试验配置、工作条件
和性能判据
1 范围
除GB/T18268.1的要求外，GB/T18268的本部分论述了接口符合IEC61784-1，CP3/2的现场装置电磁兼容试验的特殊要求。GB/T18268的本部分只考虑设备的现场总线接口。
注：设备的其他功能要求包括在GB/T18268系列标准的其他部分中。 GB/T18268的本部分仅涉及用于过程测量和过程控制的现场装置。 GB/T18268的本部分关于接口操作和接口参数符合IEC61784-1，CP3/2。IEC61784-1规定了
一整套基于IEC 61158系列标准的特定通信协议行规。
制造商应规定设备的预期使用环境，并（或）从GB/T18268.1中选择适合的试验等级。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T18268的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T18268.1—2010的第2章适用于本部分，并附加以下文件： GB/T16657.2-2008工业通信网络现场总线规范第2部分：物理层规范和服务定义
(IEC 61158-2 :2007,IDT)
GB/T 18268.1—2010 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第1部分：通用要求 (IEC 61326-1:2005,IDT)
IEC61158-3:2003测量和控制数字数据通信工业控制系统用现场总线第3部分：数据链路层服务定义
IEC 61158-5:2003 测量和控制数字数据通信工业控制系统用现场总线 第5部分：应用层服务定义
IEC 61158-6:2003 测量和控制数字数据通信工业控制系统用现场总线第6部分：应用层协议规范
IEC 61784-1 测量和控制数字数据通信第1部分：有关工业控制系统用现场总线的连续和断续制造行规集 3术语和定义
GB/T18268.1—2010的第3章适用于本部分，
1 GB/T 18268.25--2010/IEC 61326-2-5:2006
4总则
GB/T18268.1--2010的第4章适用于本部分。 5电磁兼容试验方案
5. 1 总则
GB/T18268.1—2010的5.1适用于本部分。 5.2试验时受试设备的配置
GB/T18268.1一2010的5.2适用于本部分，并附加以下内容。 5.2.101试验配置
为了确定电磁兼容试验期间受试设备的通信故障，电磁兼容型式试验期间，接口符合IEC61784-1， CP3/2的现场装置的配置应限于一台主设备和一台从设备（受试设备）。
从设备可能有电源或信号辅助连接端。 从设备经一个三端口现场分配器与信号耦合器连接，信号耦合器连接到自动化系统。 现场分配器的第3端口连接标准的现场总线端接器。 用标准现场总线电缆连接受试元件、信号耦合器，现场分配器和端接器。 用低阻抗接地带将屏蔽连接在任意独立元件上（在屏蔽和表面积大的机壳间进行连接）。 电缆 L1，L2，L的长度来源于-个实际调整的配置,如图101 所示。 除各基础标准另有规定，电缆L4的长度应在8m范围内。电缆的安装应符合相应基础标推的
规定。
屏蔽层与屏蔽接地点连接时，可将屏蔽电缆的绝缘层部分剥离后用金属夹固定，或者利用分别位于接地平面上或屏蔽金属墙中的金属导线密封管等导电的引人导线进行连接。
屏蔽接地点的位置和连接取决于给定的试验设施。例如，使用电波暗室或屏蔽室时，屏蔽接地点位于金属壁的穿墙处；在用接地平面试验台对电缆进行试验时，屏蔽接地点位于接地平面上。 5.2.102连接线
应采用A类标准总线电缆作为通信线（见GB/T16657.2—2008的12.8.2）。电缆L，至L3的长度见图101，L，的长度在5.2.101中描述。 5.2.103受试设备的连接
受试设备的接地和屏蔽连接应符合制造商的规范。 5.2.104电磁兼容试验用现场总线网络
现场总线网络包括总线端接器、现场分配器、信号耦合器、自动化系统和受试设备。 GB/T18268的本部分不涉及信号耦合器和自动化系统中数据的评估和处理。 现场分配器和总线端接器仅指无源元件。
Z GB/T 18268.25—2010/IEC 61326-2-5 :2006
=
2
D
屏蔽接地点（SGP）； 2—低阻抗连接屏蔽; 3——连接端（见5.2.101); 4—分配器和 SGP的连接电缆;
A一一自动化系统（主设备）； B——现场设备（受试设备，从设备） C- 一 信号耦合器（实际类型）； D- 电磁兼容试验区域； E- 三端口现场分配器， F--端接器。
1-
SGP和现场设备的连接电缆。
图 101电磁兼容试验配置
5.3试验期间受试设备的工作条件
GB/T18268.1一2010的5.3适用于本部分，并附加以下内容。 5.3.101工作条件
工作条件描述现场装置（受试设备）和自动化系统的软件设定。连接信号耦合器的主设备设定成 “1级主设备”，受试设备设定成"从设备”。
应采用循环工作模式。 主设备的“重试次数限值”参数应设为2。这表明，在连续3次传输错误后（总线中断或从设备不工
作），主设备（自动化系统)将状态设置为“0”。
应考患IEC61158-3：2003表84中循环数据交换的常规总线参数。 5.3.102状态
现场总线控制器和自动化系统共同监控受试设备收到的数据。收到的数据为IEC61158-5：2003
3 GB/T 18268.25—2010/1EC 61326-2-5 :2006
的5.3.3.12或5.3.3.13确定的限定浮点32（QualifiedFloat32）或限定无符号8（QualifiedUnsigned8）类型的数据。这些数据类型属于*结构（STRUCTURE)格式，并真有名为“状态”的字段
状态的质量对于自动化系统和试验评估有重要意义。 对于收到的数据，只出现4种质量状态（引自IEC61158-6：2003的13.1.1.3.2.2）： —“好(溢出)”
表示状态值在192～255范围内；表示状态值在128～191范围内; 表示状态值在64～127范围内；表示状态值在 0～63 范围内。
—“好(不溢出)” “不确定”
“差” 受试设备应最好配置成状态值为128。 如果能对受试设备功能进行评估，也允许采用其他状态值。但应避免选用显示通信受到骚扰的状
态值。若选择了128以外的状态值，应在试验报告中说明原因。 5.3.103监控
a）应对状态进行监控。 b）应对测量值进行监控。 如果GB/T18268的相关部分中未规定允差，可采用制造商规定的允差。
5.4性能判据规范
GB/T18268.1—2010的5.4适用于本部分。 5.5 试验描述
GB/T18268.1--2010的5.5适用于本部分。
6抗扰度要求
6. 1试验条件
GB/T18268.1-2010的6.1适用于本部分。 6.2抗扰度试验要求
GB/T18268.1--2010的6.2适用于本部分。 6.3偶然性方面
GB/T18268.1—2010的6.3适用于本部分。 6. 4 性能判据
GB/T18268.1—2010的6.4适用于本部分。 此外，应进行状态监控，性能判据A：试验期间和试验后，按5.3.102选择的状态值应无变化。 性能判据B：试验期间，按5.3.102选择状态值可能发生偏离。试验后，按5.3.102选择的状态值
应保持不变。
性能判据C:试验期间和试验后，按5.3.102选择的状态值可能发生偏离。
7 发射要求
GB/T18268.1--2010的第7章适用于本部分。
4 GB/T 18268.25--2010/IEC 61326-2-5 :2006
试验结果和试验报告
8
GB/T18268.1--2010的第8章适用于本部分，
9使用说明
GB/T18268.1一2010的第9章适用于本部分。
5