您当前的位置:首页>行业标准>SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:1.21 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-05-18 17:18:42



推荐标签: 测量 半导体 技术 方法 直流 器件 参数 参数 测试设备 11820 器件

内容简介

上一章:SJ/T 11821-2022 数字功率分析仪通用规范 下一章:SJ/T 11817-2022 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范

相关文章

JJF 1895-2021 半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范 高清晰版 SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法 SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 SJ/T 11848-2022 半导体分立器件3DG2484型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 SJ/T 11849-2022 半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 SJ/T 11851-2022 半导体分立器件S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范 SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 SJ/T 11850-2022 半导体分立器件3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范