您当前的位置:首页>行业标准>SJ 21262-2018 MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求

SJ 21262-2018 MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:5.84 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-07-16 08:43:47



相关搜索: mems 技术 sj 芯片 惯性 测试 器件 器件 21262

内容简介

SJ 21262-2018 MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求
上一章:SN/T 4868-2017 寡鬃实蝇(非中国种)检疫鉴定方法 下一章:T/CACM 1229-2019 中医骨伤科临床诊疗指南 膝痹病(膝骨关节炎)

相关文章

SJ 21166-2016 MEMS惯性器件划片工艺技术要求 SJ 21169-2016 MEMS惯性器件干法刻蚀工艺技术要求 SJ 21165-2016 MEMS惯性器件湿法腐蚀工艺技术要求 SJ 21168-2016 MEMS惯性器件金属薄膜生长工艺技术要求 SJ 21164-2016 MEMS惯性器件圆片减薄抛光工艺技术要求 SJ 21261-2018 MEMS 惯性器件结构设计要求 MEMS惯性器件的主要失效模式和失效机理研究 SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法