数字电子技术与接口技术实验教程
作　者： 宁改娣，金印彬，刘涛 编著
出版时间： 2013
内容简介
　　在传统数字实验的基础上，本书以Digilent公司的Basys2和Nexvs3开发板为平台，将数字逻辑设计与硬件描述语言有机结合，内容延伸到微处理器体系结构，同时展示了如何用VerilogHDL和VHDL在FPGA上设计所学数字逻辑电路以及复杂数字系统。 本书不仅可作为高等学校电气工程、计算机科学与技术、控制科学与工程、电子信息工程、生物医学工程、机械设计制造及其自动化等专业的教材，也可作为数字电路设计工程师和技术人员的参考书。
目录
导读
第一部分　实验硬件和软件平台介绍
　第1章　硬件开发平台介绍
　　1．1　Nexys3硬件平台简介
　　1．2　Nexys3电源、时钟及外围接口电路
　　　1．2．1　电源
　　　1．2．2　时钟
　　　1．2．3　简单外围设备电路
　　　1．2．4　Pmod连接器
　　　1．2．5　VMODS子板
　　　1．2．6　+VHDC连接器
　　1．3　Nexys3存储器及FPGA配置
　　　1．3．1　Nexys3开发板上的存储器
　　　1．3．2　FPGA配置
　　1．4　Nexys3硬件平台测试
　　　1．4．1　Nexys3出厂时的测试程序
　　　1．4．2　使用Adept软件测试Nexys3
　　1．5　Basys2硬件平台简介
　　　1．5．1　Basys2开发板资源简介
　　　1．5．2　Basys2电源、时钟及简单外围设备介绍
　　　1．5. 3　Basys2 User Dem0
　　　参考文献和相关网站
　第2章　软件平台介绍
　　2．1　计算机辅助设计软件工具介绍
　　　2．1．1　CAD流程简介
　　　2．1．2　各种软件安装和实验准备
　　2．2　FPGA设计流程
　　　2．2．1　综合
　　　2．2．2　实现
　　2．3　ISE软件使用与FPGA设计实例
　　　2．3．1　开发板的简单外设实验步骤
　　　2．3．2　阅读设计报告
　　2．4　嵌入式系统开发
　　　2．4．1　嵌入式开发套件EDK
　　　2．4．2　嵌入式处理器简介
　　2．5　硬件描述语言
　　　2．5．1　VHDL简介
　　　2．5．2　Verilog HDL简介
　　　参考文献和相关网站
第二部分　传统数字电子技术实验
　第3章　传统数字电路基础实验．
　　3．1　传统数字电路实验过程简介
　　　3．1．1　电路连接及注意事项
　　　3．1．2　通电和实验
　　　3．1．3　数字电路的故障查找和排除
　　3．2　集成逻辑门参数测试实验
　　　3．2. 1　实验目的
　　　3．2. 2　实验思路和实验前准备
　　　3．2．3　实验内容和步骤
　　　3．2．4　实验报告要求
　　　3．2．5　实验仪器及器件
　　3．3　集成逻辑门功能测试实验
　　　3．3．1　实验目的
　　　3．3．2　实验思路和实验前准备
　　　3．3．3　实验内容和步骤
　　　3．3．4　实验报告要求
　　　3．3．5　实验仪器及器件
　　3．4　基于中规模器件的数字钟设计
　　　3．4．1　实验目的
　　　3．4．2　实验思路和实验前准备
　　　3．4．3　实验内容和步骤
　　　3．4．4　实验报告要求
　　　3. 4．5　实验仪器及器件
　　　参考文献和相关网站
第三部分　现代数字电子技术实验
　第4章　基于HDL的组合逻辑电路实验
　　4．1　逻辑门实验
　　　……
第四部分　综合实验和接口验
附录A　FPGA实验预习报告
附录B Basys2板电路原理图