第31卷，第4期 2011年4月
光谱学与光谱分析 Spectroscopy and Spectral Analysis
Vol. 31,No. 4. pp1110-1114
April,2011
ICP-AES分析法中铁基体非光谱于扰效应的机理研究
刘坤杰，李文军，，李建强，鲁毅强北京科技大学化学与生物工程学院，北京100083
摘要采用电感耦合等离子体发射光谱法研究了浓度为0～5mg·mL-"的铁基体的非光谱干扰效应。通过计算1扰函数各项的数值及考察各项数值与铁基体浓度的对应关系，初步探讨了铁的非光谱干扰的一些规律，发现铁基体浓度变化对激发温度、电子数密度和电离度并无显著影响，绝大部份分析元素谱线的活度系数项都随铁基体浓度升高而降低，而干扰函数各项对干扰函数的贡献情况，则因离子线和原子线面异，造成这种情况的原因在于二者的电离因子项存在明显的差别。
关键词电感耦合等离子体发射光谱法；基体效应；非光谱干扰；活度系数
中图分类号：0657.3
引言
文献标识码：A
DOl: 10, 3964/j.issn. 1000-0593(2011)04-1110-05
+()
Tk（
T
T
(2)
其中，下标I和Ⅱ分别表示原子线和离子线，有上标“""的是
电感耦合等离子体发射光谱法分析中，基体于扰可分为光谱于扰和非光谱于犹。后者是指已分辨开的分析信号因于扰物的存在而增强或减弱的效应，与光谱干扰一样是ICP AES的重要研究课题。但是非光谱干扰不具有加合性，其机理和行为都要比光谐干扰复杂得多。在这些方面研究最多的是某些尤机酸类(-4)、碱金属等易电离元素(EIE)、某些碱土金属和稀土元素等[513)，而对其他元素基体的研究则相对较少。
ICP-AES的非光谱干扰可用干扰因子log一
一表示，其
中I和I分别为有干扰物质和无于扰物质存在时的分析谱线强度，二者均已扣除了光谱干扰。干扰因子是活度系数>、温度T、电离度工、离解度β、原子气化热及谱线激发能的函数，有如下的函数形式()：
原子线
山log
log
It
+log+log
p
+0. 43 (E +LE+ log
T
离子线
log
+log:
+log
收稿日期：2010-07-15，修订日期：2010-11-30
基金项目：国家白然科学基金项日(20876015)资助
(1)
有干扰物质存在时的参数。为谱线强度，为活度系数，β 为离解度，L为原子气化热，k为Boltzmann常数，k=1.38 X10-2"kJ·mol-1，T为绝对温度，E为激发能。r为电离度，由下式计算
r=k/(k;+n)
(3）
其中n，为电子数密度。k，为Saha电离常数，其计算公式为
=4.83×1021量×10-54m
(4)
式中，E为电离能，z和z分别为原子及离子配分函数，其他符号意义同前。
0.43(EL_EL）称为Bltzmann 因子项。 k（T
T
鲁称为离解因子项。log号和
log称为活度系数项。log
p
1
称为电离因子项。 log T-r
文献[14]认为对干扰因子贡献最大的是活度系数项。本文要探讨的正是各项对干扰函数的贡献以及在此方面原子线与离子线的差别、各项的数值与铁基体浓度的对应关系，对其进行更为细致的研究
实验装置与实验方法 1
1.1仪器设备及主要工作条件
e-mail; Ikj2011@sina. com
作简介：刘坤杰，女，1979年生，北京科技人学化学与生物工程学院博士研究生
*通讯联系人
方方数据
e-mail, wjli@sas. ustb. edu. cn