您当前的位置:首页>论文资料>椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进

椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进

资料类别:论文资料

文档格式:PDF电子版

文件大小:346.04 KB

资料语言:中文

更新时间:2024-12-14 13:32:32



推荐标签:

内容简介

椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进 第18卷第6期 2010年6月
文章编号
1004-924X(2010)06-1303-06
光学精密工程
Optics and Precision Engineering
椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进
王瑞荣1.2,陈伟民1,王伟2
(1.重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400044;
2.上海激光等高子体研究所高功率激光物理国家实验室,上海201800)
Vol, 18No.6 Jun.2010
摘要:讨论了髓圆弯晶谱仪的波长分辨能力。在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下,对两种实际影响椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的主要因素,即光源空间尺寸和非理想椭圆分光晶面进行了分析。分别对上述两种情况进行了数学建模和数值模拟仿真。定量地分析了非理想桶圆晶面和光源空间尺寸对椭圆弯晶X射线谱仪波长分辨本领的影响程度,并给出了出射狭缝宽度与摘圆弯晶谱仪波长判读加宽的关系。从理论上论证了光源空间尺寸在限制谱仪的波长分辨能力方面仍然起关键主导作用;结合辅圆分光品体的结构参数,合理地选择出射狭缝宽度,可使谱仪达到足够好的光谱分辨率和信噪比。用搭建的实验平台进行了实验测试,结果表明,当出射狭缝宽度(28)为10mm时,实测的谱线半高全宽()为3.1×10-1nm;28为4mm时,为2.3×10-*nm,实测结果佐证了仿真结果的正确性。

词:弯晶谱仅;分期能力;获缝宽度
中图分类号:TH744.1
文献标识码:A
doi;10, 3788/OPE, 20101806, 1303
Improvementofspectralresolutionpowerforan
ellipticallycurvedcrystalspectrometer WANGRui-rongl-,CHENWei-min',WANGWei
(l.Key Laboratory of Optoelectronic Technology and System of the Ministry of Education, Chongqing University,Chongqing 400044, China; 2.State Key Laboratory of High Power
LaserandPhysics,ShanghaiInstituteofLaserPlasma,Shanghai201800,China)
Abstract: The wavelength resolution power of a elliptically curved crystal spectrometer is discussed. After the spectral line profile caused by itself is supposed to be neglected,two main factors effecting on the wavelength resolution power of the spectrometer are analyzed. The first one is mainly that the source center is not on the focus of the ellipsoid and the source size can not be ignored, The other one is that the X-ray is reflected from irregular crystal surface, and it is not an ideal ellipsoid, In order to improve the wavelength measuring precision of the spectrometer, two simulating models are estab-lished according to the above mentioned factors. Then the two models are analyzed and the relation between the wavelength resolution power and the exit aperture slit width is presented by digital calcu-lation. Meanwhile, a number of experimental investigations on the wavelength-resolved characteristics of the diagncstic system are conducted under a variety of slit width conditions. The wavelength reso-
收稿日期:2009-08-13;修订日期:2009-11-13.
基金项目:国家863高技术研究发展计划资助项目
上一章:离散噪声图像的光斑质心算法及其硬件实现 下一章:三线阵立体测绘相机时间系统优化与实时检测

相关文章

改进型高分辨率宽波段Schwarzschild成像光谱仪研究 宽波段高分辨率改进型Czerny-Turner成像光谱仪研究 高光谱分辨率紫外平场光谱仪的研制 基于DMD的光谱分辨率自适应Hadamard变换成像光谱仪 基于低分辨率色散型拉曼光谱仪的汽油苯含量快速分析 一种光谱分辨率可调的新型空间调制傅里叶变换光谱仪 高速时空分辨光谱仪的构建及其在水中纳秒脉冲火花放电光谱诊断中的应用 基于谱图还原的中阶梯光栅光谱仪有效波长提取算法