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自动化与仪器仪表》2015年2期（总第184期）
光耦参数综合测试仪的实现
吴正阳，邬正义
（常熟理工学院物理与电子工程学院
江苏常熟，215500）
摘要：介绍了-一种光耦测试仪，可测试不同型号多种功能参数，用于快速判别光耦性能。仪表内部微控制器按照测试光租型号及参数，切换继电器矩阵形成测试电路，控制程控电压源和程控电流源加载测试条件，并结合相关电路，获取参数完成测试。击穿电压测试需要的高压由程控高压源灵活给定，改变了传统测试时电压不可调的局限性。微弱电流检测单元实现了纳安级的电流测量。光耦参数测量完毕后，按型号分区成组存储，并可通过串口上传测试数据，存人数据库，按需打印报表。在企业运行多年，表明该测试仪稳定、准确、可靠，
关键词：光耦；微弱电流检测；程控高压源；击穿电压 DOI编码：10.14016/j.cnki.1001-9227.2015.02.049
Abstract: An optocoupler test instrument applied to test many functional parameters about different types for quick identifica-tion optocoupler performances was introduced. In the instrument, the microcontroller controled to switch relay matrix to generate the test circuits and load test conditions by programmable voltage source and programmable current source, which was according to opt-ocoupler models and parameters. It also combined with the associated circuits to obtain parameters and completed the test. The high voltage required by breakdown voltage test was flexibly given by programmable high voltage source, which break through the invari-able limits of traditional test voltage. Weak current detection unit implemented nanoampere current measurement. After completing aeoaaoeeaseeaoa test data into the database through the serial port and printed reports according to the actual demand. After working for several years, it shows that the test instrument is stable, accurate, and reliable.
Key words: Optocoupler; Weak current measurement; Programmable high voltage source; Breakdown voltagg
中图分类号：TP216 引育
文献标识码：A
光耦是目前普遍使用的器件之一，常用于电气隔离。光耦
出厂检定中，常见的测试基本参数包括：集电极与发射极饱和压降Vom、穿透电流Ico，发光二极管正向电压V，、反向电流Ig，电流传输比CTR，击穿电压Vce及光耦内部带基极光敏三极管的h等七项。部分厂商使用单参数测试仪，分别逐一测试、手工记录测试结果，工作效率低。为了提高测试效率及效果，有必要开发光耦参数综合测试仪。现有一种光耦测试仪采用微型计算机主控，外围电路辅助，实现了多参数测量。但存在测试条件可调变化范围较小，且个别参数测试时，测试条件不具有可调性，如击穿电压"。没有充分发挥工控机的效能，性价比不高。
设计时从降低成本，提高工作效率，扩大产品测试种类人手，完成了光耦参数综合测试仪。它以微控制器为核心，结合外围电路，实现了按照选择的光耦型号，自动加载光耦各参数的测试条件，记录测试结果，批量测试，计算机通信等功能，检定产品合格与否。测试仪测量范围宽，测试条件可按需设定。目前已投人使用，并通过计量认证。
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系统设计
收稿日期：2014-12-25
作者简介：吴正阳（1980-），男，江苏常熟，硕士，讲师，主要
从事智能仪表设计、检测技术及自动化装置等方面的研究和教学工作。
文章编号：1001-9227（2015）02-0049-03
参数测试规范参照电子元器件参数计量测试方法执行间。按照测试基本模型，测试时需要可调节的恒流源、恒压源、电压测量及微弱电流检测等硬件电路。不同型号的光耦测试时，若参数相同，测试电路相同，只需调节具体加载的测试条件。实际待测光耦的规格型号不同，引脚封装各异，为使用同一参数的测试电路，需将光耦引脚转接至相关电路。系统框图，如下图1所示。
强控电压源
维电器奶换E
测试电路
锂控电洗源电压测量
微电液控测
单片粉
系统框图
图1
S232通信存战器
键盘输人工作参数，数码显示单元配合键盘操作并显示最终测试结果。存储电路将每一个产品的测试数据，按指定位置依照光耦类型分区存入存储器中。测试结果可按光耦型号由 RS232通信批量上传至计算机。上位机软件将测试参数按序导人数据库中存放，操作员可调阅历史记录，打印报表。
程控恒流源，电压源主要用于设置测试条件。可调高压源在测试V。e时使用，微弱电流检测涉及两项测试内容，漏电流 I。和Ico。继电器切换阵列将各测试条件引人待测光耦各引脚，并选择连接辅助外围电路，产生测试某项光耦参数的电路。
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