YD/T 702-2018代替 YD/T 702—1993
PIN-FET光接收组件测试方法
Test methods of PIN-FEToptical receive assembly
2018-12-21 发布
2019-04-01 实施
前 言
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替 YD/T 702—1993《PIN/FET光接收组件测试方法》。本标准与YD/T 702—1993 相比，主要技术变化如下∶
—增加了规范性引用文件 YD/T 1199.1—2002、YD/T 1353—2015、YD/T 2288.2—2011、ANSI/ESDSTM5.1-2007、Telcordia GR-468-CORE∶2004 等标准的引用（见 2）;
—增加了对 PIN-FET组件、无光电压、电压响应度和电流响应度的术语定义（见3.1，3.7，3.8，3.9);
—PIN-FET 组件的特征参数测试内容由原 5 个参数调整到9 个参数，去掉对原标准中对响应波长参数的测试要求，新增加对无光电压、电流响应度、电压响应度、跨阻抗和输出阻抗参数的测试方法（见4.4.1，4.4.2，4.4.3，4.4.4和4.4.9）;
—增加了一种针对 PIN-FET 组件带宽指标的测试方法（见 4，4.6）;
—增加了一种针对 PIN-FET 组件灵敏度指标的测试方法（见 4.4.7）;
—增加了对可靠性试验的要求，包括了可靠性试验测试环境的要求以及对物理特性试验、机械完 整性试验、非工作环境试验、工作环境试验等项目的测试要求和引用标准，同时增加了对于可靠性测试项目的失效判据依据（见 5）。
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本标准由中国通信标准化协会提出并归口。