YD/T 3037.2-2016
通用集成电路卡（UICC）与终端间USB接口特性测试方法第2部分∶ UICC
Test methods for USB characteristic between UICC and terminal interface Part 2: UICC
2016-07-01 实施
2016-04-05 发布
前言
YDT3036 《通用集成电路卡（UICC）与终端间USB接口特性技术要求》、YDT3037.1 《通用集成电路卡UICC与终端间USB接口特性测试方法 第1部分∶终端》、YDT30372《通用集成电路卡CUICC）与终端间USB接口特性测试方法 第2部分∶UICC》共同构成规范通用集成电路卡（UICC）与终端间USB接口特性的系列标准。
YDT3037《通用集成电路卡UICC）与终编间USB接口特性测试方法》分为两个部分
——第1部分;终端∶
——第2部分;UICC。
本部分为YD/T3037《通用集成电路卡UICC与终端间USB特性测试方法》的第2部分。本部分参考ETSITS 102922-2《通用集成电路卡（UICC）与终端间USB接口特性测试方法 第2部分; UICCV700版本编制，与ETSITS102922《通用集成电路卡（UIC与终端间USB接口特性测试方法 第 2部分∶UICC》V.0.0版本的一致程度为非等效。
本部分按照GBT1.1-2009给出的规则起草。
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本部分由中国通信标准化协会提出并归口。