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WS 520-2017 计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范

资料类别:行业标准

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更新时间:2020-12-11 16:40:57



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内容简介

WS 520-2017 计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范 WS 520-2017代替GBZ 187—2007
计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范
Specification for testing of quality control in computed radiography (CR)
2017-10-01 实施
2017-04-10发布
目 次
前言………………………………………………………………………………………………………1
1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1
2规范性引用文件 …………………………………………………………………………………………1
3 术语和定义 ………………………………………….…………………………………………………1
4 质量控制检测的一般要求 ………………………………………………………………………………2
5 质量控制检测项目与技术要求 ………………………………………………………………………2
6 专用检测项目的检测方法与评价 ………………………………………………………………………2
附录 A(规范性附录) 质量控制检测项目与技术要求 …………………………………………………5
附录B(资料性附录)四个生产厂CR 系统 IP的技术要求示例 ………………………………………7
附录 C(资料性附录) CR 系统专用检测项目所需要的设备与用具……………………………………9
参考文献 …………………………………………………………………………………………………… 10
本标准第 4章、5.1~5.4、5.7,5.9 和附录 A是强制性的,其余是推荐性的。
本标准按照 GB/T 1.1一2009 给出的规则起草。

 
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