ICS 03.120.01;03.120.30 L 05
中华人民共和国国家标准
GB/T 39844——2021/IEC 61164:2004
可靠性增长 统计试验和评估方法Reliability growth—Statistical test and estimation methods
(IEC 61164:2004,IDT)
2021-10-01实施2021-03-09发布
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T 39844—2021/IEC 61164:2004
可靠性增长 统计试验和评估方法
1 范围
本标准基于可靠性改进工作中的失效数据，给出了可靠性增长评估的模型和数值方法。这些模型和数值方法涉及增长、评估、产品可靠度置信区间和产品拟合优度检验。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 2900.13—2008 电工术语 可信性与服务质量【IEC 60050（191）：1990，IDT】GB/T 5080.1——2012 可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理（IEC 60300-3-5：2001，IDT)
GB/T 15174—2017 可靠性增长大纲（IEC 61014：2003，IDT）
IEC 60605-4 设备可靠性试验 第4部分：指数分布下可靠性试验的点估计和区间估计方法(Equipment reliability testing—Part 4:Statisticalprocedures for exponential distribution—Point esti-mates,confidence intervals,prediction intervals and tolerance intervals)
IEC60605-6 设备可靠性试验 第6部分：设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验(Equipment reliability testing—Part 6:Tests forthe validity of the constant failure rate or constant failure intensity assumptions)
3 术语和定义
GB/T 2900.13—2008和GB/T 15174—2017界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
可靠度目标 reliability goal
可靠性增长程序结束后产品期望达到的可靠性水平。3.2
初始可靠度 initial reliability
在产品设计阶段早期的可靠性水平，即在任何潜在失效模式和原因被设计改进之前的可靠性水平。3.3
设计阶段的可靠性增长模型 reliability growth model for the design phase
根据潜在的设计改进，用数学语言描述从设计阶段开始到设计阶段结束的期间内可靠性的增长变化。3.4
产品平均失效率 average product failure rate 通过给定时间段内估计的可靠度计算得到的。注：产品设计的修改导致以时间为变量的失效率函数改变。
GB/T 39844——2021/IEC 61164:2004
3.5
延迟改进 delayed modification 在试验结束时对产品进行纠正改进。注：延迟改进不在试验过程中进行。3.6
改进效果因子 improvement effectiveness factor 通过纠正改进降低系统性失效强度的比例。3.7
I类试验 type I test 时间截尾试验
可靠性增长试验在指定时间终止，或试验数据采集不涉及失效。3.8
Ⅱ类试验 type Ⅱ test 失效截尾试验
可靠性增长试验在失效累计到规定的次数之后终止，或试验数据是在某次失效时采集。
4 符号
下列符号适用于本文件。
a） 用在6.1、A.1和B.3中的符号见下表：
T
产品寿命周期特征时间，如任务时间、保证周期或者运行时间
Ro(T)
产品初始可靠度
A.D
产品在设计阶段的初始平均失效率
d(t)
|在设计阶段任何时间内的设计改进数
ap
失效纠正后可靠度增长率
s
实施的设计改进总数
to
在设计阶段用于设计改进的总持续时间
-
设计阶段从0～to的时间变量
A.(2)
设计阶段内的平均失效率（时间的函数）
A.o(to)
|设计阶段结束时tp时刻的目标平均失效率
R&(T)
产品在设计阶段要取得的可靠度目标
R(t,T)
以时间和设计改进为变量的产品可靠度函数
b） 用在6.2、A.2和B.4中的符号见下表：
R(T)
产品在设计阶段要取得的可靠度目标
to
设计阶段的总持续时间
ap
设计阶段的可靠度增长率
ANS
非系统性（或残余性）失效率
D
|在设计阶段针对薄弱环节预测或已实施的设计改进数
K
失效类别数
j,k,i
通用下标