GB/T 40293-2021
红外硫系光学薄膜折射率测试方法
Test method for refractive index of infrared optical chalcogenide films
2022-03-01实施
2021-08-20发布
前 言
本标准按照GB/T1.1一2009 给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC 103）归口。
1 范围
本标准描述了红外硫系光学薄膜（以下简称"薄膜"）折射率的测试原理，测试条件。仪器设备，样品，测试步骤、数据处理与折射率计算、计算精度和测试报告。
本标准适用于红外硫系光学薄膜折射率的测试，其他光学薄膜折射率的测试可参照使用。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注目期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 33826一2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
GB/T 36969一2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。