ICS 71.040.50 A 43
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T37254—2018
高纯碳化硅 微量元素的测定 High purity silicon carbide-Determination of trace elements
2019-09-01实施
2018-12-28 发布
国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会
发布 GB/T 37254—2018
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会（SAC/TC194)归口。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司。 本标准主要起草人：陈奕睿、邬国平、朱燕、屈海云、汪正、邹慧君、黄伟峰、谢方民。
1 GB/T 37254—2018
高纯碳化硅 微量元素的测定
警示一一使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。 使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。
1范围
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES）法和电感耦合等离子体质谱（ICP
MS)法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。
本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9%的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、
汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1（以质量分数计）。
表1 元素的测定范围
元素铝(AI) 砷(As) 钙(Ca) 铬(Cr) 铜(Cu) 铁(Fe) 汞(Hg) 钾(K)
测定范围/% 0.000 1~0.1 0.000 1~0.1 0.0001~0.1 0.000 1~0.1 0.000 1~0.1 0.000 1~0.1 0.0005~0.1 0.000 1~0.1
元素镁(Mg) 锰(Mn) 钠(Na) 镍(Ni) 铅(Pb) 硫(S) 钛(Ti) 锌(Zn)
测定范围/% 0.0001~0.1 0.0001~0.1 0.0001~0.1 0.000 1~0.1 0.000 1~0.1 0.001~0.1 0.0001~0.1 0.000 1~0.1
规范性引用文件
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单适用于本文件
GB/T 602 化学试剂 杂质测定用标准溶液的制备 GB/T 6682 分析实验室用水规格和试验方法
3 原理
3.1 ICP-OES法
样品用碳酸钠、硼砂高温熔融分解或者用酸加压溶解后，在电感耦合等离子体炬焰中激发，发射出所含元素的特征谱线，根据待测元素特征谱线的强度测定相应元素的含量。 3.2ICP-MS法
样品用酸加压溶解后，在电感耦合等离子体炬焰中激发，电离后的离子通过四极杆分离后由光电倍
增管收集，根据待测元素质量数的强度测定相应元素的含量。
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