您当前的位置:首页>行业标准>JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分:触点和终端的机械试验.试验16b:受限制的入口

JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分:触点和终端的机械试验.试验16b:受限制的入口

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:0 KB

资料语言:中文

更新时间:2024-11-13 09:10:37



相关搜索:

内容简介

JIS C 5402-16-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-2部分:触点和终端的机械试验.试验16b:受限制的入口
上一章:JIS C 5402-16-4-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-4部分:触点和终端的机械试验.试验16d:抗拉强度(压接连接器) 下一章:JIS C 5402-16-5-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-5部分:触点和终端的机械试验.试验16e:量规保持力(弹性触点)

相关文章

JIS C 5402-16-5-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-5部分:触点和终端的机械试验.试验16e:量规保持力(弹性触点) JIS C 5402-16-4-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第16-4部分:触点和终端的机械试验.试验16d:抗拉强度(压接连接器) JIS C 5402-13-2-2012 电子设备用连接器.试验和测量.第13-2部分:机械操作试验.试验13b:插入和拔出力 JIS C 61300-3-24-2012 光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量规程.第3-24部分:偏振保持光纤用连接器的键入准确度 JIS C 61300-2-15-2012 光纤连接器和无源组件.基础试验和测量规程.第2-15部分:耦合器的扭矩强度测量 JIS C 61300-3-16-2012 光纤连接器和无源组件.基础试验和测量规程.第3-16部分:球面抛光垫圈的端面半径 JIS C 61300-3-27-2012 光纤连接器和无源组件.基础试验和测量规程.第3-27部分:多路连接器插头的孔位测量方法 JIS C 61300-3-34-2012 光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量规程.第3-34部分:检查和测量.随机插配连接器的衰减