您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法

GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:3.7 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-05-28 17:11:47



相关搜索: 半导体 方法 1555 测定 单晶 单晶

内容简介

GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
上一章:GB/T 34213-2023 蓝宝石单晶用高纯氧化铝 下一章:GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法

相关文章

GB/T 1555-2023 正式版 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法 GB/T 39137-2020 难熔金属单晶晶向测定方法 GB/T 39137-2020 难熔金属单晶晶向测定方法 SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法 SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法 单晶γ-TiAl合金中裂纹沿[111]晶向扩展的分子动力学研究 GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法