ICS 33.100.20 CCS L 06
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T17626.12—2023/IEC 61000-4-12:2017
代替GB/T17626.12—2013
电磁兼容 试验和测量技术第12部分：振铃波抗扰度试验
Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques-
Part 12:Ring wave immunity test
[IEC 61000-4-12:2017,Electromagnetic compatibility (EMC)--
Part 4-12:Testing and measurementtechniques-
Ring wave immunity test,IDTJ
2023-03-17发布
2023-10-01实施
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布 GB/T17626.12—2023/IEC61000-4-12:2017
目 次
前言引言 1范围 2规范性引用文件 3术语、定义和缩略语·
T
3.1 术语和定义 3.2 缩略语 4概述 4.1 现象描述 4.2 相关参数 5试验等级
2
试验设备 6.1 振铃波发生器 6.2 耦合/去耦网络 6.3 CDN的校准试验布置
6
13
7
16 16 16 16
7.1 试验设备 7.2 试验设备的验证 7.3 EUT电源端口的试验布置 7.4 非屏蔽不对称互连线的试验布置 7.5 非屏蔽对称互连线的试验布置 7.6 屏蔽线的试验布置 7.7 保护接地 8试验程序。 8.1 概述· 8.2 实验室参考条件.. 8.3 试验实施… 9.试验结果评定· 10试验报告附录A（资料性）电磁环境信息、安装类别和试验等级附录B（资料性） 发生器和试验等级的选择 B.1 概述： B.2环境分类
17 17 17 18 18 18 19 19 20 20 .21 23 23 23 I GB/T17626.12—2023/IEC61000-4-12:2017
23 23 25
B.3端口类型的定义 B.4试验等级的选择· 附录C（资料性）注释· C.1不同的源阻抗 C.2试验的应用附录D（资料性） 测量不确定度(MU)的考虑 D.1 概述 D.2 振铃波参数的说明…· D.3振铃波测量不确定度的影响因素 D.4发生器输出电压和电流测量的不确定度... D.5不确定度在振铃波标准符合性中的应用.. 参考文献
.25
25 26 26 26 26 27 30 31
II GB/T17626.12—2023/IEC61000-4-12:2017
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件是GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》的第12部分。GB/T17626已经发布了以下部分：
GB/T17626.1-—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论； GB/T17626.2-—2018 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验； GB/T17626.3—2016 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验； GB/T17626.4-2018 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验； GB/T17626.5-—2019 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击)抗扰度试验；
-
--GB/T17626.6-2017 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度；
GB/T17626.7—2017 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、间谐波的测量和测量仪器导则； GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验； GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验； GB/T17626.10—2017 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验； GB/T17626.112008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验； GB/T17626.12—2023 电磁兼容 试验和测量技术 第12部分：振铃波抗扰度试验； GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验； GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验； -GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪功能和设计规范； GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验； GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验； GB/T17626.18—2016 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡波抗扰度试验； GB/T17626.19—2022 电磁兼容 试验和测量技术第19部分：交流电源端口2kHz~ 150kHz差模传导骚扰和通信信号抗扰度试验； GB/T17626.20—2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验； GB/T17626.21—2014 电磁兼容 试验和测量技术混波室试验方法； GB/T17626.22—2017 电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量； GB/T17626.24—2012 电磁兼容 试验和测量技术 HEMP传导骚扰保护装置的试验方法； GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验； GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验； GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术直流电源输人端口电压暂降、短时中
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断和电压变化的抗扰度试验； GB/T17626.302012电磁兼容 试验和测量技术电能质量测量方法； GB/T17626.31一2021电磁兼容试验和测量技术第31部分：交流电源端口宽带传导骚扰抗扰度试验； GB/T17626.34—2012 电磁兼容试验和测量技术 主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验。
本文件代替GB/T17626.12—2013《电磁兼容 试验和测量技术 振铃波抗扰度试验》，与 GB/T17626.12一2013相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：
-增加了关于振铃波波形的数学模型（见4.1)；
增加了高速CDN（见6.2.3）；增加了CDN的校准程序（见6.3）。
本文件等同采用IEC61000-4-12：2017《电磁兼容（EMC）第4-12部分：试验和测量技术 振铃波抗扰度试验》。
本文件做了下列最小限度的编辑性改动：
为与现有标准协调，将标准名称修改为《电磁兼容试验和测量技术 第12部分：振铃波抗扰度试验》； -增加了附录B发生器和试验等级的选择； -增加了附录C注释；
t
增加了附录D测量不确定度的考虑。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国电磁兼容标准化技术委员会（SAC/TC246)提出并归口。 本文件起草单位：中国电子科技集团公司第三研究所、上海市计量测试技术研究院、厦门光莆电子
股份有限公司、北京中认检测技术服务有限公司、上海电器科学研究所（集团)有限公司。
本文件主要起草人：徐鬼、陈庆梅、田禾箐、赵文晖、霍宏艳、丁少华、邢琳、张晓刚、付兆丰。 本文件于1998年首次发布，2013年第一次修订，本次为第二次修订。
IV GB/T17626.12—2023/IEC 61000-4-12:2017
引言
电磁兼容性是电气和电子设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。电磁兼容问题是影响环境及产品质量的重要因素之一，其标准化工作已引起国内外的普遍关注。在这方面，国际电工委员会（IEC)制定的IEC61000系列出版物是制造业、信息产业、电工电气工程及能源、交通运输业、社会事业及健康、消费品质量安全等领域中的通用标准，分为综述、环境、限值、试验和测量技术、安装和减缓导则、通用标准6大类。我国已经针对该系列出版物开展了国内转化工作，并建立了相应的国家标准体系。
在该标准体系中，GB/T（Z)17626《电磁兼容试验和测量技术》是关于电磁兼容领域试验和测量
技术方面的基础性标准，旨在描述传导骚扰、辐射骚扰等电磁兼容现象的抗扰度试验等内容，拟由39个部分构成。
…-抗扰度试验总论。目的在于提供电磁兼容标准中有关试验和测量技术的使用性指导，并对选
择相关的试验提供通用的建议。（GB/T17626.1) 一 静电放电抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备遭受静
电放电时的性能。（GB/T17626.2）一一射频电磁场辐射抗扰度试验。目的在于建立电气、电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度
评定依据。（GB/T17626.3）电快速瞬变脉冲群抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设
备的供电电源端口、信号、控制和接地端口在受到电快速瞬变脉冲群干扰时的抗扰度性能。 (GB/T 17626.4)
浪涌（冲击)抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备在受
到浪涌（冲击）时的抗扰度性能。（GB/T17626.5）射赖场感应的传导骚扰抗扰度。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备在收到由射频场感应的传导骚扰时的抗扰度性能。（GB/T17626.6）供电系统及所连设备谐波、间谐波的测量和测量仪器导则。目的在于规定可用于根据某些标准给出的发射限值对设备逐项进行试验，对实际供电系统中谐波电流和电压的测量的仪器。 (GB/T 17626.7)
一工频磁场抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估家用、商业和工业用电气
和电子设备处于工频（连续和短时）磁场中的抗扰度性能。（GB/T17626.8）
脉冲磁场抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估居住、商业和工业用电气
和电子设备处于脉冲磁场中的抗扰度性能。（GB/T17626.9) 一一阻尼振荡磁场抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估中、高压变电站中电
气和电子设备处于阻尼振荡磁场中的抗扰度性能。（GB/T17626.10）一第11部分：对每相输人电流小于或等于16A设备的电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度
试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备在经受电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度性能。（GB/T17626.11)
- 第12部分：振铃波抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估在实验室中居
住、商业和工业用电气和电子设备的抗扰度性能，同样也适用于发电站和变电站的设备。 (GB/T 17626.12)
一交流电端口谐波、谐间波及电网信号低频抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以
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评估电气和电子设备对谐波、间谐波和电网信号频率的低频抗扰度性能。（GB/T17626.13）一电压波动抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备在受到
正和负的低幅值电压波动时的抗扰度性能。（GB/T17626.14）闪烁仪功能和设计规范。目的在于为所有实际的电压波动波形显示正确的闪烁感知电平。 (GB/T17626.15) -0Hz～150kHz共模传导骚扰抗扰度试验。目的在于建立电气和电子设备经受共模传导骚扰测试的通用和可重复性准则。（GB/T17626.16）
一直流电源输人端口纹波抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，用以在实验室条
件下对电气和电子设备进行来自于如整流系统和/或蓄电池充电时叠加在直流电源上的纹波电压的抗扰度试验。（GB/T17626.17）一阻尼振荡波抗扰度试验。目的在于建立通用的和可重现的基准，以评估电气和电子设备在受到阻尼振荡波时的抗扰度性能。（GB/T17626.18）第19部分：交流电源端口2kHz～150kHz差模传导骚扰和通信信号抗扰度试验。目的在于确认电气和电子设备在公用电网下工作时能承受来自诸如电力电子和电力线通信系统（PLC）等的差模传导骚扰。（GB/T17626.19）
横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验。目的在于给出TEM波导的性能、用于电磁兼
容试验的TEM波导的确认方法、在TEM波导中进行辐射发射和抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。（GB/T17626.20）混波室试验方法。目的在于建立使用混波室评估电气和电子设备在射频电磁场中的性能和确定电气电子设备的辐射发射等级的通用规范。（GB/T17626.21）全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量。目的在于规定在同一个全电波暗室内进行辐射发射和辐射抗扰度的通用确认程序、受试设备的试验布置要求和全电波暗室测量方法。 (GB/T17626.22)
一第23部分：HEMP和其他辐射骚扰防护装置的试验方法。目的在于通过描述HEMP试验的
基本原理，以及防护元件试验的理论基础（试验概念）、试验配置、所需设备、试验程序、数据处理等重要概念。（预计为第23部分） HEMP传导骚扰保护装置的试验方法。目的在于规定HEMP传导骚扰保护装置的试验方法，包括电压击穿和电压限制特性的试验，以及电压和电流快速变化时的残余电压的测量方法。(GB/T17626.24)
第25部分：设备和系统HEMP抗扰度试验方法。目的在于建立通用的和可重现的基准，用于
评估遭受HEMP辐射环境及其在电源、天线、I/O信号线和控制线上产生的传导瞬态骚扰时的电气和电子设备性能。（预计为第25部分）三相电压不平衡抗扰度试验。目的在于为电气和电子设备在受到不平衡的供电电压时的抗扰度评价建立参考。（GB/T17626.27) 工频频率变化抗扰度试验。目的在于为电气和电子设备在受到工频频率变化时的抗扰度评价提供依据。（GB/T17626.28）一直流电源输人端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验。目的在于建立评价直流电气、 电子设备在经受电压暂降、短时中断和电压变化时的抗扰度的通用准则。（GB/T17626.29）一电能质量测量方法。目的在于规定50Hz交流供电系统中电能质量参数测量方法及测量结果的解释。（GB/T17626.30）第31部分：交流电源端口宽带传导扰抗扰度试验。目的在于建立通用的基准，以评估电气
和电子设备交流电源端口在遭受有意和/或无意宽带信号源产生的传导骚扰时的抗扰度。 (GB/T17626.31)
V GB/T17626.12—2023/IEC61000-4-12:2017
第32部分：高空核电磁脉冲（HEMP)模拟器概述。目的在于提供国际上现有的系统级HEMP 模拟器以及它们作为抗扰度试验与验证设备时所需要的相关信息。（预计为第32部分）
—第33部分：高功率瞬态参数测量方法。目的在于给出高功率电磁瞬态响应波形的测量方法和
特征参数的信息。（GB/Z17626.33) 一主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验。目的在于建
立评价电气和电子设备在经受电压暂降、短时中断和电压变化时的抗扰度的通用准则。 (GB/T17626.34)
一 第35部分：高功率电磁（HPEM)模拟器概述。目的在于提供国际上现有的系统级HPEM窄
带(窄谱)和宽带（宽谱、亚超宽谱和超宽谱)模拟器以及它们作为抗扰度试验与验证设备时所需要的相关信息。（预计为第35部分）
- 第36部分：设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验。目的在于为评估设备和系统对有意电磁
于扰源的抗扰度提供了确定试验水平的方法。（预计为第36部分）
一第37部分：谐波发射试验系统校准与验证协议。目的在于为制造商、终端用户、独立实验室、
其他组织机构提供系统化指导，以规定一定谐波电流发射范围内适用的合规状态。（预计为第 37部分）
一第38部分：电压波动和闪烁合规测试系统的测试、验证和校准协议。目的在于为由型式试验
设备组成的系统提供定期校准和验证的指南和方法。（预计为第38部分）一 第39部分：近场射抗扰度试验。目的在于建立通用的基准，以评估暴露于近距离源的辐射
射频电磁场中的电气电子设备的抗扰度要求。（预计为第39部分） -第40部分：调制或失真信号功率的数字测量方法。目的在于介绍两种适用于波动或非周期负
载下功率量测量的数字算法，并说明所提出的算法的工作原理。（预计为第40部分）本次是对GB/T17626.12的修订。修订了振铃波抗扰度试验的方法，有助于建立通用的基准，以
评估电气和电子设备对振铃波的抗扰度，供其他产品的技术委员会、通用标准、产品类标准和产品标准引用。
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